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TK2526系列 四探针/方阻/电阻率测试仪

Model: TK2526 四探针电阻率 / 方阻测试仪
Category 国货精品 > TestKey > 四探针/方阻/电阻率测试仪 Summary 四探针开尔文测试 半导体材料检测 数据追溯分析 方阻测试 仪测量原理直流四探针恒流测试 手动触发断线检测 探针接触断线自动检测 统计分析
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

Specifications

概览

TK2526系列TK2526系列TK2526系列

TK2526系列

特征

采用四探针开尔文测试方式,有效规避接触与引线电阻影响,可自动换算方阻、电阻率等参数,测量精准。
量程覆盖范围广,搭载探针接触自检功能,杜绝虚接造成错误读数,适配各类导电薄膜、金属薄片、半导体材料检测。
4.3 寸彩屏搭配中英文双语系统,支持多组探针参数保存,具备上下限分选声光报警,便于产线快速质检。
配备 RS232、USB 通讯接口,支持数据本地存储、U 盘导出与上位机联机采集,方便数据追溯与分析。
台式紧凑机身,内置精密恒流源,抗干扰能力强,兼顾实验室研发与生产线批量巡检使用。

详情

项目参数
产品型号TK2526 四探针电阻率 / 方阻测试仪
测量原理直流四探针恒流测试法(开尔文四线)
测量范围10μΩ・cm ~ 200kΩ・cm(电阻率)
基本准确度±4%
测量精度≤±4%(常温标准条件)
信号源直流精密恒流源
量程方式自动量程切换
测试速度约 0.2s / 次
显示结果方块电阻、体电阻率、电导率、测试电流、测试电压
最大读数99999
校正功能内置零点自校正
比较器功能上下限比较,HI/IN/LO 三段判定,声光报警
触发方式内部触发、手动触发
断线检测探针接触断线自动检测,弹窗告警
通讯接口USB Device、USB Host、RS232
显示屏4.3 英寸彩色 LCD
操作语言中文 / 英文双语切换
标配附件电源线、四探针连接线缆
可选附件TSK108A 直线四探针探头、测试平台、标准校准片、上位机软件
数据功能本地存储、U 盘数据导出、上位机联机采集、统计分析
其他功能多组参数存储、固件升级、探针参数自定义
供电方式AC220V
外形尺寸335 × 120 × 320 mm
整机重量约 5.5 kg
适用范围ITO/FTO 导电玻璃、PET 导电膜、石墨烯薄膜、金属箔材、半导体硅片、导电浆料、锂电池集流体等薄层导电材料检测

应用

  1. 导电薄膜:ITO/FTO 导电玻璃、PET 导电膜、石墨烯薄膜方阻检测

  2. 金属薄层:铜箔、铝箔、各类金属镀层电阻率测试

  3. 半导体材料:硅片、晶圆、导电硅材料薄层性能检测

  4. 导电浆料:银浆、碳浆等涂布导电涂层品质检验

  5. 新能源材料:锂电池集流体、导电极片来料与成品抽检

  6. 科研实验室:新材料导电性能研发测试

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