三温终端测试分类机 3160-C
Model: 3160-C
Category
国货精品
> Chroma 致茂
> 半导体/IC测试
> IC测试分类机(ICTestHandler)
Summary
更多样化测试 主动式温控系统在测试 氮气灌入测试 C三温终端测试
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
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Specifications
产品特色
- 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
- 更快的Index Time(0.6 Sec)
- 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
- Chamber Less的设计
- 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 Sites)
- 更简单快速的更换Kit
产品介绍
Nitro TEC 温度控制技术
致茂电子展示一个崭新的温控方案「Nitro-TEC温度控制技术」，此技术主要是将「氮气」的应用与「TEC 温控系统」进行结合，以达到更精准的温度控制。与传统的液态氮冷却系统比较起来，Nitro-TEC的温度控制技术主要有下列几项优点：
- 主动式温控系统在测试期间内，俱有更好的温度准确性
- TEC允许使用者更快速切换冷/热端
- 在预冷板置放区的下方导入氮气流道，以达到更好的预冷效果
- 缩短机台停止作动的时间，以利机台维护或更换kit部件
- 减少的LN2消耗
- 传统 LN2 Cooling：将氮气灌入测试空间 (Chamber)
- Chroma Nitro-TEC：氮气主要是将Coolant的温度冷却降温
致茂电子3160-C是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试，且支持1/2/4 sites的测试需求。另外，由于可靠的机构及功能设计，也让该设备能提供更高的产出及降低设备当机率，3160-C能更有效提升生产力并缩短更换Kit部件的时间，且主动式温控系统(ATC)更可提供待测物-55°C to 150°C的测试环境。
 ▲ Auto Tray Load / Unload |  ▲ Pre-Soak |  ▲ Test Head |
 ▲ Rotator |  ▲ Defrost |  ▲ Programmable Probe |
型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| 3160-C | 三温终端测试分类机 |
