三温终端测试分类机 3160-C

型号:3160-C
分类 国货精品 > Chroma 致茂 > 半导体/IC测试 > IC测试分类机(ICTestHandler) 摘要 更多样化测试 主动式温控系统在测试 氮气灌入测试 C三温终端测试
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格型号价格

型号 规格/配置 单位 价格 批发价 备注
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规格参数

产品特色

  • 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
  • 更快的Index Time(0.6 Sec)
  • 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
  • Chamber Less的设计
  • 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 Sites)
  • 更简单快速的更换Kit

产品介绍

Nitro TEC 温度控制技术

致茂电子展示一个崭新的温控方案「Nitro-TEC温度控制技术」,此技术主要是将「氮气」的应用与「TEC 温控系统」进行结合,以达到更精准的温度控制。与传统的液态氮冷却系统比较起来,Nitro-TEC的温度控制技术主要有下列几项优点:

  • 主动式温控系统在测试期间内,俱有更好的温度准确性
  • TEC允许使用者更快速切换冷/热端
  • 在预冷板置放区的下方导入氮气流道,以达到更好的预冷效果
  • 缩短机台停止作动的时间,以利机台维护或更换kit部件
  • 减少的LN2消耗
    • 传统 LN2 Cooling:将氮气灌入测试空间 (Chamber)
    • Chroma Nitro-TEC:氮气主要是将Coolant的温度冷却降温

致茂电子3160-C是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试,且支持1/2/4 sites的测试需求。另外,由于可靠的机构及功能设计,也让该设备能提供更高的产出及降低设备当机率,3160-C能更有效提升生产力并缩短更换Kit部件的时间,且主动式温控系统(ATC)更可提供待测物-55°C to 150°C的测试环境。


▲ Auto Tray Load / Unload

▲ Pre-Soak

▲ Test Head

▲ Rotator

▲ Defrost

▲ Programmable Probe
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型号规格

型号规格说明
3160-C三温终端测试分类机

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