三温系统级测试机 Model 3260

产品特色

• 最大封装尺寸：3 mm × 3 mm – 45 mm × 45 mm
  • 选配项目：
    • 3 mm × 3 mm – 55 mm × 55 mm
    • 3 mm × 3 mm – 70 mm × 70 mm
• 稳定可靠的高速取放式分选机
• 同步双吸嘴取放设计
• 空气阻尼器确保接触平衡
• 装置防护功能（卡料 / 余料检测、测试座温度控制）
• 智能良率优化系统
• 支持堆栈封装（PoP）测试方案
• 整合射频（RF）测试能力
• 通用转换治具设计

选配项

• 兼容三温测试：-40 °C 至 150 °C，具快速温度反馈系统
• 高功率 PTC 模块：450 W热负载下Device温度维持低于80 °C

产品介绍

Chroma 3260 Full Range ATC系统级测试（SLT）分选机具备坚固的六站式架构，支持-40 °C至150 °C的三温测试，冷却能力高达1,800 W。搭载三温Sea Cobra-E Gen 1热引擎，可提供TSD功能，实现精确的T-junction监控以及快速、实时的温度回馈。

该系统亦可搭载高功率PTC模块，在高达450W的热负载下，仍能将装置温度维持于80 °C以下。3260三温SLT测试分选机提供灵活的测试模式，不仅可同时进行多站测试，亦能针对不同测试站设定独立的温度条件。根据不同应用情境，可快速切换温度条件，有效缩短等待时间。针对如PoP及RF测试等进阶测试场景所优化，3260可在严苛的热环境中提供高速、可靠且一致的测试效能。

▲ 温度切换时间

型号规格