晶片测试分类机 Model 3112
Model: 3112
Category
国货精品
> Chroma 致茂
> 半导体/IC测试
> IC测试分类机(ICTestHandler)
Summary
多盘置入自动测试 测式座产品堆栈检测 自动化芯片测试 精确测试 后依据测试 运用此自动化测试 同时也增加测试 稳定度测试
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
Wholesale prices are visible to designated member levels — Log in or Register to view. For bulk purchase, inquire online.
Specifications
产品特色
- 高信赖度之PnP自动化测试分类机
- x4 多盘置入自动测试分类
- 全方位(X/Y/Z/θ)可调式探针座模块
- 测式座产品堆栈检测
- x12输出分类盘可程序设定输出类别
- 全程实时良率显示与控制
- 全程探针接触状态显示(选配)
产品介绍
Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化芯片测试分类机，可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类。此设备透 过PnP方式将芯片自芯片盘加载至测试站中，精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模块化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。
芯片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升 生产效率、减少人力需求，同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低生产成本。
型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| 3112 | 晶片测试分类机 |
