用途场景
规格型号价格
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Specifications
产品特色
- 多合一整合型测试机
- 可弹性安排多种测试站
- 具精准之温度平台控制能力
- 温控范围可达-20~85℃
- 光学模组可支援大角度之发光角量测
- 实现奈秒级高速测试 (选配)
应用范围
- 3D感测发光模组与晶片特性测试
- 车用Lidar发光模组与晶片特性测试
- 各种雷射(Laser)产品之特性测试
产品介绍
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| Chroma 58625为3D感测发光模组之特性测试设备，可结合各种不同光学模组于同一自动化平台，精准控制温度并完成所有测试。依不同光学模组之安排，其测试内容涵盖电性、光能量、波长、近场光学、远场光学等各种光电特性参数，非常适合3D 感测发光元件之产品开发与产品品质出入料检验。 |
光能量与波长量测(LIV+λ)搭配高性能积分球与高解析度光谱仪可应用于量测3D感测发光模组之光能量与波长特性，Chroma 58625并提供弹性化设计，使用者可依不同之测试需求自订测试情境，透过光能量(Light Power)、电流(Current)、电压(Voltage) 的扫描测试，可推算出各种光电参数如阀值电流(Ith)、光电转换效率(PCE)、斜率效率(SE)。 |
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远场光学量测 (Far Field Test)于3D感测发光模组的远场光学量测应用上，Chroma 58625以屏幕投影式技术，可量测高达120度发散角之3D感测发光模组，利用Chroma开发之独特演算法，分析远场光型，获得发散角、均匀性(beam uniformity)与IEC 60825人眼安全规范Class 1的自动判断。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之测试需求。 |
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近场光学量测 (Near Field Test)近场光学量测主要应用于3D感测模组中发光晶片(Laser Diodes)之近场光学量测，搭配高性能之显微镜模组与自动寻光平台，可量测雷射(Laser Diodes)之光腰宽(Beam waist W0)、发散角(divergence angle)、射束品质(beam propagation ratio M2)；另外，应用于多光源雷射(Laser array)时，透过Chroma独特的影像分析技术可获得雷射光强度均匀性(uniformity)之资讯。 |
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型号规格
| 型号 | 规格说明 |
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| 58625 | 光电元件模组多功能测试系统 |
