用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
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生产线检测、工艺控制、制造过程监控
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质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 依据ISO/IEC标准
- 最大可测试6吋晶圆
- 宽广的测试范围与高精准温度控制
- 同时支持Pulse与CW模式操作
- LIV量测 : Model 58635-L
近场量测 : Model 58635-N
远场量测 : Model 58635-F - 支持Multisite测试
产品介绍
随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。其中，雷射二极管 (Laser Diode) 除通讯应用外，也朝消费性应用扩展。因应此全新市场，Chroma藉由多年累积之光电量测技术，开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。
58635系列最大可测试6吋晶圆，并搭配Chroma电子之精密测试仪器设备，如电流源与温度控制器，能满足雷射二极管测试之严苛要求，雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异，58635系列机种精准之温度控制，能提供稳定、准确之量测数值。
Model 58635系列因应不同测试需求，共包含3机种：58635-L，58635-N，以及 58635-F。
LIV量测系统
Chroma电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测，搭配积分球与光谱仪，提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能，所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。
近场量测系统
58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范，对于雷射二极管之光束传播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束质量 (Beam Quality) 之相关参数，提供精准快速之量测。
远场量测系统
58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量，诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼安全相关规范，58635-F能于远场找寻光束最强之处，从而判断是否符合人眼安全相关规范。
应用范围
型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| 58635-L | 光电元件晶圆LIV点测系统 |
| 58635-N | 光电元件近场量测点测系统 |
| 58635-F | 光电元件远场量测点测系统 |
| 58635-LN | Photonics Device Probing LIV & NF Test System |
