高通道密度雷射二极体烧机及可靠度测试系统 Model 58604-HD

产品特色

• 可提供烧机测试、可靠度测试与寿命测试
• 支援自动电流控制模式（ACC）与自动功率控制模式（APC）
• 独立通道驱动与量测
• 独家设计无突波SMU
• 最高可达500mA单通道电流驱动
• 最高125ºC的精准温度控制
• 模组化设计提供最大的便利性与便于维护
• 软体自动重新连线功能
• 完整的ESD防护

产品介绍

Chroma 58604-HD是专为提供雷射二极体老化测试所设计，具有高密度、多功能、与独立控制模组等特性。每个模组可提供高达384个SMU通道，每个通道可透过软体，设定不同的电流值，并量测电压。整个系统可安装最多7层模组，总共可提供高达2,688个独立通道。

在ACC模式下，每个SMU通道可提供非常稳定的预设电流给每个雷射二极体。不管烧机中的雷射二极体是否发生内阻或者温度变化，在烧机测试期间的电流将维持并固定在预先设定好的数值，电压值则会被量测并记录下来作为品质的参考依据。

依据外部光电二极体（PhotoDiode）传送的回馈讯号，内建的控制电路可以在整个烧机期间自动调整雷射二极体的电流值以保持固定的光功率输出。电压与电流值则被记录下来作为品质的参考依据。

专利设计的控温平台（Heat Plate）能够精确控制雷射二极体的基板温度，同时具有良好的稳定性与均温性。相较烤箱或烘烤炉类型的雷射二极体老化系统，Chroma的解决方案更加精简、容易操作，具备更佳效能与节省能源。且58604-HD的占地面积更小、操作更多样性、维护更便利。

客户可以在不同的治具（Fixture）设定不同的烧机温度、电流条件、操作模式（ACC/APC），以及不同的起始时间与老化期间。治具独立控制所带来的好处，是提供更多的使用弹性，各治具可透过个别的治具以对应不同的待测物或封装，并且各治具之间不会产生电性或温度的干涉。

独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极体，不会有电流或电压的突波产生，意外损坏待测物。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全通道的SMU也包含通道绝缘（Isolation）与静电（ESD）保护，形成完整的隔离防护。

烧机测试资料将储存在系统的本地电脑中或指定的远端伺服器。当模组与系统电脑通讯暂时中断时，资料可暂存于模组中达6小时以上，当通讯恢复连线之后，暂存于模组中的资料将自动写入系统电脑中或远端伺服器，不会发生资料遗失。

型号规格