在材料科学、半导体及精密仪器领域，许多材料的失效与相变都发生在变温环境中。传统的 “先降温/加热，再放电镜” 测试方法，往往因为样品状态改变、环境差异等因素，导致实验数据失真。
SEM原位冷热台作为扫描电子显微镜（SEM）的重要原位附件，直接在电镜样品腔内实现精确控温，让研究者能够在高真空电镜环境下，实时观测样品在- 190℃至200℃区间内的微观结构演变，真正实现 “所见即所得”。
产品参数：
冷热方式：液氮制冷，电阻加热
温控范围：-190～200℃（可定制）
温度稳定性：±0.1℃
温度分辨率：0.1℃
温控方式：PID
温度传感器：热电偶
实验准备：
将金属镓使用无水乙醇或丙酮反复清洗表面，去除氧化层和油污；用氮气吹干，确保表面无残留液体。
实验步骤：
首先在常温状态下对金属镓样品进行形貌观测；随后以 50℃/min 的高速降温速率将样品冷却至 -50℃，并在该温度下再次进行观测，以对比样品在室温与低温条件下的微观结构变化。
金属镓-50℃
实验结论：
室温下金属镓表面呈光滑状态，经快速降温至 - 50℃后完全固化为致密晶体结构。
SEM 原位冷热台的出现，极大地拓展了显微镜的应用边界。无论是研究材料的热膨胀系数、相变点，还是分析器件的热失效机理，它都是实验室中不可或缺的高精度原位表征工具。
