文天精策XRD冷热台是专为X射线衍射（XRD）实验设计的高精度变温测试设备，主要用于研究材料在升降温过程中的相变、晶体结构演变及热行为，可实现温度场与X射线衍射测试的精确匹配，为材料科学、地质、催化、物理等领域提供可靠的原位实验平台。
设备支持超宽温域精确控温，可在低温到高温区间内连续可调，配合稳定的升降温速率，实现对样品的快速升温、缓慢退火等多种热处理模式。同时具备原位XRD测试能力，可在温度变化过程中直接进行X射线衍射测量，有效避免样品转移带来的误差，真实反映材料在不同温度下的结构变化规律。
设备配备气氛/真空控制系统，支持真空、空气、惰性气体及多种反应气体环境，可模拟材料实际工况条件，特别适用于催化剂、功能材料、高温陶瓷等样品的原位结构表征。
产品参数：
冷热方式：液氮制冷，电阻加热
温度范围：-190～600℃/RT～1200℃（可定制）
温度稳定性：±0.1℃
温度传感器：PT100/热电偶
光路：反射光路（可升级为透射光路）
腔室设计：气密腔室（可升级真空腔室）
适配仪器：可与尼康等显微镜、光谱仪联用
适用场景：极低温/高温样品原位光学观测、相变研究、材料结构分析
