用途场景
规格型号价格
| 型号 | 规格/配置 | 单位 | 价格 | 批发价 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|
| 6362C | 光谱分析仪 / 光谱范围：350nm～1200nm | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| 6362C-H02 | 英文选件 / 配置英文前后面板、英文操作系统 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| 6362C-H01 | 接口选件 / 含有GPIB接口、触发输入接口、触发输出接口 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
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Specifications
产品概述
6362C是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪，适用于350nm～1200nm光谱范围的DWDM等光系统测试；LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件测试；光纤等光无源器件测试。
功能特点
主要特点
20pm最小光谱分辨率
350nm～1200nm光谱扫描范围
60dB大动态范围
支持空间光输入
强大的多应用光谱数据分析功能
12.1英寸触控显示、全中文操作
20pm最小分辨率
6362C光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置，多种光谱分辨率设置灵活切换，最小光谱分辨率优于20pm。
峰值检索
6362C光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法，峰值检索准确度高，自适应性和鲁棒性强，且运算速度快。
单纵模激光光谱分析
6362C光谱分析仪具备多场景光谱分析功能，针对DFB-LD等单纵模激光光源，仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法，有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。
多纵模激光光谱分析
针对FP-LD等多纵模激光光源，6362C光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法，多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。
ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽
包络分析法测试中心波长和光谱带宽
均方根分析法测试中心波长和光谱带宽
多种光电子器件应用分析功能
6362C光谱分析仪可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析，实现所有测试项目批处理。仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用等光谱应用功能。
典型应用
光芯片、FP-LD、DFB-LD、光收发模块、光电系统等的光谱参数测试分析。
技术指标
订购信息
主机型号
| 编号 | 名称 | 描述 |
|---|---|---|
| 6362C | 光谱分析仪 | 光谱范围：350nm～1200nm |
选件型号
| 编号 | 名称 | 描述 | 选配 |
|---|---|---|---|
| 6362C-H02 | 英文选件 | 配置英文前后面板、英文操作系统 | |
| 6362C-H01 | 接口选件 | 含有GPIB接口、触发输入接口、触发输出接口 |
