用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格参数
【产品概述】
AR/VR用的Micro-LED微显示器、投影用的Micro/Mini-LED模组以及LED、OLED光源与灯具等光学系统的设计，无不需要Micro/Mini-LED的近场光分布信息。GO-NFM3200 Micro/Mini近场分布光度计（也称灯具配光曲线测试系统或光强分布测试仪）专用于解决这类光源的近场光分布测量，可用于10μm-2mm如Micro-LED、Micro-OLED等微型显示芯片的近场测量。
【产品特点】
近场测量获得齐全光色度参数
近场光度分布测量将被测光源看作复杂的面或体，从发光面出发的每根光线的起点、方向和通量，为光源合格评定和后续光学设计提供精准数据。
高灵敏度光辐射测量
采用高灵敏的光度探头和光谱辐射计，结合具有极低亮度探测能力的成像亮度测量部件，可实现高灵敏度光色测量。
实现被测样品的精确对准
采用图像识别技术结合电动微动平台实现被测对象的自动对准，解决了Micro/Mini-LED空间光场测量中对准难、发光弱、光色易漂移的难题，支持实现可对比、可复现的精准测量。
【典型应用】
近场光度分布测量，建立光线模型
为光源的二次光学设计和研发提供准确的依据
【技术参数】
| 型 号 | GO-NFM3200 |
| A轴（成像测量设备转动中心）转动范围 | -40°~+90° |
| C轴（水平载物台饶垂直轴）转动范围 | 0°~360° |
| 角度精度 | ±0.1° |
| 三向调节机构调节范围 | 前后、左右：±3mm，上下：0~5mm |
| 被测样品基板最大尺寸 | ≤30 mm |
| 光线文件输出格式 | Tracepro 和 Lighttools光学设计软件兼容格式 （RAY和TXT文件） |
| 光强数据文件输出格式 | *.GOS *.CIE *.CEN *IES *.Tm14 *.CIB *.LDT |
