用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格参数
【产品概述】
CXS系列光谱成像彩色亮度计（也称光谱亮度计或分光辐射亮度计）集光谱成像于一体，精确匹配CIE1931的配色函数，可实现光谱和二维亮度及色度均匀性的测量，可广泛应用于LCD、OLED、投影显示等领域。稳定性和复现性好，不仅适用于实验室测量，也可应用于生产线中光学品质控制。
【产品特点】
一次取样，即得光色均匀性信息
采用科学级恒温制冷面阵探测器，且探测器光谱响应高度匹配人眼三刺激值曲线，一次测量相当于千万个描点式亮度计同时工作，能够快速准确获得视场内各点的亮度及色度数据，并分析均匀性。
低亮度、高重复性测量
噪声是影响测量灵敏度、稳定性和重复性的重要因素，而噪声的主要来源是探测器温度，CXS-2120能实现更低的恒温制冷温度，配合专业的噪声电路设计，即使在低亮度下，仍能保证高测量重复性和稳定性。
先进的人工智能算法，助力实现各种测量分析
兼容智能图像识别等多种算法，可面向各种测量对象（如异形屏、曲面屏），根据客户需求制定亮度和色度均匀性分析功能，支持显示屏的缺陷（MURA）评估功能。
集成高精度光谱仪，提供精确光谱测量
内部集成高精度光谱仪，可提供精确的光谱、色坐标、主波长、色温、显色指数等测量参数，进而从更多维度评估被测产品的质量。
【典型应用】
光谱成像一体，准确度高、重复性好
【技术参数】
| 型 号 | CXS-2120 |
| 光谱波长范围 | 380 nm-780 nm |
| 光谱波长准确度 | ±0.3 nm |
| 亮度测量范围 | 0.01 cd/m²- 10⁴ cd/m²(特殊可定制) |
| 亮度测试精度 | ±3% |
| 亮度测试重复性 | 0.001 |
| 色度测试精度 | ±0.003 |
| 色度测试重复性 | 0.0002 |
| 视场角 | 约22°(水平)×16°(垂直) |
| 测试距离 | 0.3 米至无穷大 |
