SpecMetrix® 高级实验室涂层厚度测量系统

技术参数

量范围: 0.2至250微米（涂层厚度）

精度: 涂层厚度的±1%（标称值）* 基于使用NIST可追踪的厚度标准进行的整个测量范围（0.2至250微米）精度验证

测量速度: 每秒最多100次

温度范围: 0°至45°C

输出指标: 微米、密耳、mg/in²、mg/4in²、g/m²、mg/cm²、lbs/令

操作系统: Windows®平台

制造: 美国制造

认证: CE认证、UL认证和CSA认证

性能特点

简化质量控制流程

SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统旨在简化质量控制流程。由于其无与伦比的能力，能够以亚微米级精度识别和量化绝对薄涂层或层厚度，它是我们首选的实验室测量工具之一。SpecMetrix高级实验室系统加速了离线样品测试，并改善了来料和成品检验。它是多个行业和应用中受到质量控制实验室信赖的系统之一

多功能测量能力

SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统是一个极其多功能的系统，允许用户测量几乎任何涂层或涂覆层。

• 灵活快速 – 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力。
• 非接触式 – 测量过程不接触涂层或基材，保持样品和部件的完整性。
• 绝对厚度测量 – 超高精度的实时涂层和层厚度测量，加速样品测试、数据收集和质量分析。
• 基材独立 – 适用于透明、有色或着色基材的湿样或干样测量。广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层。
• 无危害性 – 采用独特的非放射性和非侵入性的ROI和EXR光学技术。环保 – 非破坏性测试方法减少废料、返工劳动力和能源成本。
• 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包自动将所有数据存储到Excel®或工厂网络中
• 湿涂层或干涂层
• 清晰、着色或有色涂层
• 适用于任何基材的涂层，几乎适合任何行业，包括柔性包装、汽车和工业
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层
• 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力
• 高精度、即时测量--SpecMetrix®高级实验室系统在单点和扫描模式下提供高精度的非接触样品测试。它提供超精确和实时的涂层及层厚度测量，以帮助加速样品测试、数据收集和质量分析。
• 完整的涂层洞察---凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以获得样品的完整涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。
• 该技术也很安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的独家光学技术高度先进，并在整个涂层行业中得到广泛应用。