ZDS5000行业分析型示波器

产品图示

产品特性

512Mpts存储深度，捕获长时间波形不失真存储深度=采样率×采样时间
如果存储深度不足，高采样率的情况下只能捕获一小段波形，ZDS5054D标配512Mpts超大存储深度，捕获1024ms波形的情况下，依然可以保持100MSa/s采样率。

100万次/秒波形刷新率，快速发现异常信号
示波器波形刷新率越高，死区时间就越短，可以更快发现偶发性的异常信号。ZDS5054Pro示波器突破100万次/秒波形刷新率，让工程师快速发现异常信号。

丰富的触发方式，灵活捕获信号
标配13种基本触发，33种协议触发，创新的模板触发，帮助工程师采用灵活地捕获所需信号。

参数测量，快速判断异常
支持54种参数的全屏测量统计，通过FPGA并行计算全部波形的最大值，最小值，平均值，标准差，最多可同时显示24种参数，计算全程仅需1秒钟。

波形搜索，快速定位异常
支持边沿、脉宽、欠幅、上市/下降时间、周期/频率等多种搜索条件，基于全硬件加速搜索算法，仅需1秒即可从海量波形中快速定位符合搜索条件的波形，自动标记使异常信号一览无余。

45种协议解码，助力通信协议调试
ZDS5054Pro、ZD5054D颠覆性地标配45种串行通信协议解码，涵盖常用的现场总线、系统总线以及内部总线。3秒钟即可完成512Mpts波形解码，协助工程师快速完成通信调试。

时序分析：1秒完成通信时序一致性测试
手机、智能穿戴、家电、智慧屏、多媒体影音等嵌入式智能设备，对于内部总线通信时序一致性有严格要求。ZDS5054D创新的时序分析功能，可分析IIC、IIS、SPI、MIPI-RFFE等信号的脉宽、幅值、边沿、建立时间、保持时间等多种组合参数，原本手动测试需要几十分钟，使用时序分析功能自动测试仅需一秒钟即可完成，并可导出测试报告。

分段存储，52万帧历史波形记录
对于偶发信号的波形统计分析，过去需要工程师蹲守在示波器前进行手动测试。分段存储功能可对触发的特定波形进行存储、回放，波形帧数最高可达52万帧，彻底解放工程师的工作。

FIR硬件实时滤波器
ZDS5000示波器内置FIR硬件实时滤波器，可在10Hz-200MHz范围内任意调节示波器带宽，精准过滤特定频点的噪声与干扰信号，只呈现有效信号。

电源分析：助力电源信号完整性分析
ZDS5054A电源分析功能涵盖了输入输出特性测试，MOSFET、磁性元件、电容、电感等器件分析，调制波形测试等功能，全方位评测电源可靠性。

MOSFET开关损耗精准量化
功率MOSFET开关损耗测试是PFC电源调试中的难点，由于SPWM每个周期的开关损耗都不相同，传统通过手光标和数学运算手动测试的方式已经不适用。ZDS5054A示波器标配250Mpts存储深度，可捕获多个完整调制周期SPWM波形，自动统计各开关周期的开通/关断/导通损耗，计算最大值、最小值、平均值，准确量化开关器件的功率损耗。

SOA测试：有效保障MOSFET工作安全
功率MOSFET瞬时电压、电流、功率超出安全工作区，会导致器件损坏、爆炸的风险陡增，常规调试手段难以对器件的各种工况进行全面评估。SOA安全工作区分析功能，可统计MOSFET在所有工况下瞬时参数超出安全工作区的概率，便于工程师更好的评估电源工作稳定性。

环路分析：快速判断电源环路稳定性
稳定的反馈环路对开关电源来说是非常重要的，如果没有足够的相位裕度和幅值裕度，电源的动态性能就会很差或者出现输出振荡。伯德图可以直观呈现负反馈系统的增益、相位的频率响应曲线，通过分析系统的增益余量与相位余量，可以判断控制系统是否稳定。

内置双通道AFG信号发生器
内置双通道函数信号发生器，支持正弦波、三角波、方波、锯齿波等标准函数信号输出，可调节信号初始相位、占空比，频率最高可达30MHz。

技术规格