用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格参数
XP8系列模块化光调制分析仪，1 MHz至40 GHz，20 GSa/s
M8290A光调制分析仪及HSD测试解决方案平台，专用于400G相干器件与发射机测试。92 GSa/s模块化光调制分析仪。
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频率范围
1 MHz 至 40 GHz
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波长范围
1527.6 纳米至 1570.01 纳米（使用 M8292A）
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误差向量幅度噪声底
< 2.4% EVM rms at 2.5 GHz frequency offset (with M8292A), < 3.5% EVM rms at 10 GHz frequency offset (with M8292A) More... Less
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模拟带宽
37 GHz（3 dB）
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最大可检测符号速率
74 Gbaud
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最大记录长度
512 千萨/通道
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最大频率
42吉赫兹
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类型
光调制分析仪与高速数字化仪
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平台
AXIe
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最大采样率
20 GSa/s
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ADC分辨率
8位
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