用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格参数
概览
特征
4.3 寸 24 位真彩色液晶屏，480X272 分辨率
最高方阻精度：0.03%，方阻最小分辨：10μΩ
5½ 位高分辨率测量结果显示
最高电阻精度：0.01%，最小分辨率：0.1μΩ
测试状态最高到 2GΩ
测试状态故障智能检测
被测件厚度可预设，电阻率测试无需查表
电阻 / 方阻，电阻率，电导率，温度，湿度同步测试
多种探头可选，测量各种特性材料的方阻电阻率
温度补偿功能 (TC)
符合 GBT 1551-2009 及 GBT 1552-1995
统计功能，提供 CpK，Cp 等统计量
截屏功能，数据记录和参数保存功能
Handler 接口用于实现联机操作
详情
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | TK2525 四探针电阻率 / 方阻测试仪 |
| 测量原理 | 直流四探针恒流测试法（开尔文四线） |
| 测量范围 | 10μΩ・cm ～ 200kΩ・cm（电阻率） |
| 基本准确度 | ±4% |
| 测量精度 | ≤±4%（常温标准条件） |
| 信号源 | 直流精密恒流源 |
| 量程方式 | 自动量程切换 |
| 测试速度 | 约 0.2s / 次 |
| 显示结果 | 方块电阻、体电阻率、电导率、测试电流、测试电压 |
| 最大读数 | 99999 |
| 校正功能 | 内置零点自校正 |
| 比较器功能 | 上下限比较，HI/IN/LO 三段判定，声光报警 |
| 触发方式 | 内部触发、手动触发 |
| 断线检测 | 探针接触断线自动检测，弹窗告警 |
| 通讯接口 | USB Device、USB Host、RS232 |
| 显示屏 | 4.3 英寸彩色 LCD |
| 操作语言 | 中文 / 英文双语切换 |
| 标配附件 | 电源线、四探针连接线缆 |
| 可选附件 | TSK108A 直线四探针探头、测试平台、标准校准片、上位机软件 |
| 数据功能 | 本地存储、U 盘数据导出、上位机联机采集 |
| 其他功能 | 多组探针参数存储、固件升级 |
| 供电方式 | AC220V |
| 外形尺寸 | 335 × 120 × 320 mm |
| 整机重量 | 约 5.5 kg |
| 适用范围 | ITO/FTO 导电玻璃、导电薄膜、金属箔材、导电浆料、锂电池集流体等薄层导电材料常规检测 |
应用
半导体
导电薄膜
金属 / 纳米涂层
太阳能材料
陶瓷
电阻器
❓ 常见问答 3 查看更多 →
问：TK2525 四探针测试仪能测哪些材料？
答：直流四探针恒流测试法（开尔文四线），最高方阻精度 0.03%、方阻最小分辨 10μΩ；电阻精度 0.01%、分辨率 0.1μΩ，测试范围最高到 2GΩ。
- 被测件厚度可预设，电阻率测试无需查表换算
- 电阻/方阻、电阻率、电导率、温度、湿度同步测试
- 多种探头可选，适配各种特性材料
- 统计功能提供 CpK/Cp，产线质检数据留痕
问：方阻和电阻率是怎么自动换算的？
答：测量范围 10μΩ·cm~200kΩ·cm（电阻率），基本准确度 ±4%，测试速度约 0.2s/次，自动量程切换；比较器 HI/IN/LO 三段判定带声光报警，探针接触断线自动检测弹窗告警。
结果显示最大读数 99999，数据支持本地存储、U 盘导出与上位机联机采集，方便追溯与分析。
问：探头和配件怎么配？
答：片状/薄膜样品建议加配测试平台与标准校准片，开箱先用校准片验证读数再上产线；异形或大尺寸样品可与直线探头配合手工布点。
通讯接口 USB Device、USB Host、RS232；多组探针参数存储、固件升级、探针参数自定义都支持，换探头不用重新标定整套参数。
