双面半自动探针台 PT-305
Model: PT-305
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
Specifications
产品概览
满足双向器件(双向可控硅、TVS等)以及需要正反面双向测试的芯片探针测试。
产品介绍
· 高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高
· 显示器调针功能，操作更简便直观
· 探针接触信号实时探测显示
· 可选遮光测试
产品参数
自动对准定位：人工上片后，图像处理系统自动根据预先设定的模板自动完成对准、定位到第一点过程，无需人工干预
自定义图形测试：通过编辑，可以准确只测试有效图形
探针接触SENSOR感应、针压可调
可承受高压：2000V
可测圆片尺寸：3、4、5英寸(3寸需更换承片台)
可测圆片种类：双向可控硅、TVS等双向分立器件
可测圆片厚度：300~1000 μm
主要功能
自动打点
自动晶圆对准功能
墨点识别功能
MAP图实时显示、存储产品
应用领域
适用于5英寸及以下双面器件自动测试
测试应用
高压测试
遮光测试
坏点重测
