手机外壳弯折寿命试验机（JP-238）主要用于手机外壳或保护套的折弯耐久验证。设备通过试样固定于夹具，按规定角度（10~150°）与次数反复弯折，判断耐弯折强度，把真实使用场景转化为可量化、可复现的实验室测试。
在研发验证与小批量试产阶段提前发现结构薄弱点，可显著降低量产后的客诉与退货风险。详细技术参数见 手机外壳弯折寿命试验机。
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