用途场景
规格型号价格
| 型号 | 规格/配置 | 单位 | 参考价 | 参考批发价 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|
| A291800 | LVDS信号模块 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| 2918 | 平面显示测试器 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| A291802 | V-by-One信号模块 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| A291803 | eDP信号模块 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| 67393-120-480 | 平面显示测试器电源模块 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| A040206 | 远端控制盒 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
| Licensed Pattern | 超高分辨率广色域测试图 | — | 登录可见 | 登录可见 | 官网规格，价格面议 |
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Specifications
产品介绍
LVDS（Low-Voltage Differential Signaling）低电压差分讯号是一种电子讯号系统，目前多用于液晶面板上，A291800支持 LVDS 1 / 2 / 4 Link输出，最高1050 Mbps/link，搭配Chroma 2918主机测试画面分辨率最高可至4K@60Hz，提供用户多种分辨率之检测应用。
A291800于颜色深度可支持6 / 8 / 10 bits供测试选择，例如色深10 bits指每一个原色被划分成1024级(210)，约可呈现高达10.7亿种颜色(210 R x 210 G x 210 B)，提供使用者自行编辑检测应用。
为解决LVDS信号实体线材与逻辑信号输出的编码定义，A291800搭配Chroma 2918透过FPD Master软件可选择JEIDA (Japan Electronic Industry Development Association)及NS (National Semiconductor)二种标准模式、垂直和同步信号的极性测试、提供左右位移功能，在维持不变更实体线材既可调整编码定义，弹性且快速的符合专属应用设计。
*REF: Japan Electronic Industry Development Association & National Semiconductor
*以10 bits为例
FPD Master软件Link Change功能，提供用户在实体连接线材与逻辑内容变换上更便利的切换，可透过软件编辑将Link 1-4中的内容做硬件输出变换，达到实时验证除错并节省线材插拔及换位的时间。
A291800为达到各种显示数据的组成(Data Mapping)，支持多种LVDS信号模式在分割、排列、组合的选择功能，提供用户1 / 2 / 4 Link Mapping，进行左右、奇偶数等在像素多种不同的模式选择。
提供电源、信号、控制脚位各别独立启动，可编辑时序最小单位为1ms。用户自行设定电源、信号、控制脚位的输出领先/落后之时序，关闭时序亦可以依据使用者需求设定。
静电冲击对电子产品是需要解决的问题，正常操作的电子产品，一旦受到静电放电Electrical Static Discharge (ESD)作用时，常会出现一些不稳定的现象，甚至功能失常或损坏之情形等。为了避免集成电路在生产过程中被静电放电所损伤，A291800符合IEC/EN 61000-4-2静电防护能力(15KV Air / 8KV Contact Discharge)，内建静电放电防护电路提供了ESD完整保护，以避免遭遇ESD冲击时对内部电路之损坏。
A291800具备温度感测能力(Temperature Sensing)，监控模块温度之变化并回馈至控制单元，当内部温度升高时会随之提高风扇转速，反之则降低转速，以此监测方式自动调节风扇流速，减少工作环境之噪音并同时维持机体最佳运作温度，提高机器使用年限。
A291800采用2.54mm间距连接器(Box Header)公座设计(Male)提供通用性及稳固接续，广泛适用于一般常规应用。
在新世代的面板可变更新率技术，可透过A291800的高速更新率优势进行产品在面对影像更新连续变化检测下确定待测物功能是否完善，配备4种检测模式分别为：Saw、Ramp、Square和Arbitrary，标准模式(Saw / Ramp / Square Mode)可设定1 ~ 50个Steps与时间间格1 ~ 600秒间可任意调整更新率(Refresh Rate)，并且任意模式(Arbitrary Mode)最多可设定同时5个Period切换，涵盖完整的面板更新率测试功能。(选配)
▲ SAW
▲ Ramp
▲ Square
▲ Arbitrary
透过日本ITE协会(The institute of Image Information and Television Engineers)授权，可提供多种4K超高分辨率广色域测试图。(选配)
本机应用范围：面板制造厂商、驱动IC设计、维修中心、PCB基板测试、自动化检测设备商、IC老化测试、示范仿真、产品验证等。
Panel Manufacturer
Driver IC Design
Repair Center
PCB Substrate Testing
Automatic Testing
Equipment Manufacturer
IC Reliability Testing
Demonstration
Product Verification
型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| A291800 | LVDS信号模块 |
| 2918 | 平面显示测试器 |
| A291802 | V-by-One信号模块 |
| A291803 | eDP信号模块 |
| 67393-120-480 | 平面显示测试器电源模块 |
| A040206 | 远端控制盒 |
| Licensed Pattern | 超高分辨率广色域测试图 |
