微型IC测试分类机 Model 3270
Model: 3270
Category
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> 半导体/IC测试
> IC测试分类机(ICTestHandler)
Summary
浮动头可有效率平衡测试 IC残留检测 微型IC测试 然后将测试 C高温测试 同时大幅降低测试
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
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Specifications
产品特色
- 适合CMOS影像感应组件量产需求
- 可靠的高速Pick&Place分类机
- 3x3mm微型IC处理能力
- 浮动头可有效率平衡测试压力
- IC残留检测功能
产品介绍
Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机，特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor, CIS)量产所需，Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。 Chroma 3270采用Pick&Place技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到 测试位置，然后将测试后产品置于适当之Tray盘。
Chroma 3270能同时处理32个待测物进行平行测试，并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量，提升生产良率，同时大幅降低测试成本。
>型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| 3270 | 微型IC测试分类机 |
