MX700KGD-600芯片动静态筛选测试系统
Model: MX700KGD-600芯片动静态筛选测试系统
Category
国货精品
> Kewell
> 功率半导体测试与智能制造装备
> 性能测试系统
Summary
性能测试系统
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
Specifications
产品介绍
MX700KGD系列芯片动静态筛选测试系统是一款对裸芯片进行自动化筛选测试的设备，主要应用于SiC MOS或IGBT芯片的测试。系统主要由测试系统、自动化装备以及测试针卡组成，能够进行芯片标称电流电压的测试，以筛选评估芯片完整的数据表现。
测试站的升降机构带动芯片载台升降，直至探针卡的的探针接触芯片为止，探针卡的压力室密封，自动校准芯片的高度。
产品规格表
产品特点
- 测试类型全覆盖，可根据客户需求进行测试功能的配置，实现芯片的外观检测、高温或常温下动静态测试等
- 高压大电流测试，实现裸芯片的标称规格测试，筛选完整数据表现
- 低杂散，系统寄生电感小于20nH
- 高产能，测试UPH可达600Pcs以上;具备气体保护功能，防止测试过程中打火和氧化。
