Surf10-vf系列 轮廓度和粗糙度测量仪
Model: Surf10-vf
用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
Specifications
产品介绍
卓越稳定机身结构
驱动器采用创新型一体式铸造结构，一体成型工艺提升结构整体性，搭配高刚性大理石立柱体，有效提升设备的隔振性能，减少外界振动对测量的影响，保障设备长期测量精度与使用寿命。
纳米级高精度传感器
配备高精度传感器，X轴与测头分辨率均高达1.2nm，测量精度达到高精度水平，能够精准捕捉零件表面的细微轮廓与粗糙度差异，测量数据精准可靠，满足高端测量需求。
一键全参数同步分析
搭载Profile Tracer 4.0智能测量软件，操作便捷，一次测量即可同步完成表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度的全面分析，自动生成规范报告，大幅提升测量效率。
产品参数
| 行程长度 | 0.1-130mm | |
| 距离测量显示误差EA（MPEEA）1 | ±（1+L/150）μm | |
| 半径测量显示误差Rk（MPER）1 | R≤10mm ：±1μm 10mm<R≤20mm： ±(0.17+R/12)μm | |
| 残余误差2 | 1.8nm | |
| 测量速度 | 轮廓测量速度 | 0.02-2mm/s |
| 粗糙度推荐测量速度 | 0.1mm/s-0.5mm/s | |
| X方向取样间距 | 0.02μm至50μm，可调整 | |
| 每次测量最多测量点 | 7500000点 | |
| X轴分辨率 | 1.2nm | |
| 测头测量范围 | 15mm | |
| 测头分辨率 | 1.2nm | |
测量案例
