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Hirek
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METS
微电子与集成电路实验系统(METS)
Repers
电力电子开发实训系统 Repers
DPT800
功率器件动态参数测试分选机 DPT800
SA4000
半导体参数分析仪 SA4000
SPT1000A
大电流静态参数测试系统 SPT1000A
CV3000
高压栅极电容测试仪 CV3000
DHTOL
研发级功率器件老化测试系统 DHTOL
PT-500
集成光电子器件高速信号发生与测试表征系统 PT-500
Seeds3000
电力电子与电气传动实验系统 Seeds3000
PT-930
12英寸全自动探针台 PT-930
GT-3000
12英寸高性能全自动探针台 GT-3000
PT-920B
8英寸全自动探针台 PT-920B
SICS3000
高频集成电路实验系统 SICS3000
PT-903II
8英寸全自动探针台 PT-903II
MPT-200
8英寸手动探针台 MPT-200
SA4000-WLLT
高低温真空电参数测试系统 SA4000-WLLT
DPT1000B
功率器件动态参数测试系统 DPT1000B
FT-3000
12英寸高性能全自动探针台 FT-3000
PT-600
玻璃基板先进封综合装量测系统 PT-600
SICS1000
微电子与集成电路实验系统 SICS1000
SA4000-WL
大尺寸晶圆手动电参数测试系统 SA4000-WL
SPT000A-WL
高压芯片电参数测试系统 SPT000A-WL
DPT1000A
功率器件动态参数测试系统 DPT1000A
PT-320
半自动探针台 PT-320