嘉品仪器-指南ZHINAN-ZN1180/ZN1181效能测试系统/ZN1690X1测漏系统(低频大环测试系统)

ZN1180/ZN1181效能测试系统/ZN1690X1测漏系统

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ZN1180/ZN1181效能测试系统/ZN1690X1测漏系统(低频大环测试系统)
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ZN1180电磁屏蔽效能测试系统

系统完全符合GB12190-90标准和GJBz12190-94标准的各项测量要求
频率点:14KHz 100KHz 200KHz 15MHz 450MHz 950MHz 3GHz 6GHz 
   10GHz 18GHz频点也可按用户要求选定)
系统屏蔽测试基线屏蔽室大于120dB
屏蔽机柜大于80dB
频率稳定度:优于5x10-5
系统阻抗:50Ω
供电电压:220V±10% 50Hz±5% 110V±10% 60Hz±5% 

ZN1181屏蔽效能测试系统

该系统是专门用于测量核磁共振室的屏蔽效能
测试频点
   0.23T以下的机器测:1MHz 5MHz 10MHz 30MHz
   0.3T以下的机器测:10MHz 21MHz 42MHz 63MHz 100MHz
屏蔽效能测试基线大于110dB

ZN1690X1测漏系统(低频大环测试系统)

    该系统是专门用于金属板结构的方舱、高性能屏蔽室(以下简称屏蔽室)施工时的屏效测试。
技术条件
1、接收机
(1)频率:106KHz±5%
(2)灵敏度:优于0dB
(3)接收天线修正系数:K=40dB
(4)衰减器范围:0dB,20dB,40dB,60dB共四档;
(5)衰减器误差:±2dB
2、场强发生器
产生电流:有两种机型A型为2A、B型为8A
3、A型测漏范围:>60dB B型测漏范围:>80dB