ZN1180/ZN1181效能测试系统/ZN1690X1测漏系统
ZN1180/ZN1181效能测试系统/ZN1690X1测漏系统(低频大环测试系统) -------------------------------------------------------------------------------------------------------
ZN1180电磁屏蔽效能测试系统 系统完全符合GB12190-90标准和GJBz12190-94标准的各项测量要求 频率点:14KHz 100KHz 200KHz 15MHz 450MHz 950MHz 3GHz 6GHz 10GHz 18GHz频点也可按用户要求选定) 系统屏蔽测试基线屏蔽室大于120dB 屏蔽机柜大于80dB 频率稳定度:优于5x10-5 系统阻抗:50Ω 供电电压:220V±10% 50Hz±5% 110V±10% 60Hz±5%
ZN1181屏蔽效能测试系统 该系统是专门用于测量核磁共振室的屏蔽效能 测试频点 0.23T以下的机器测:1MHz 5MHz 10MHz 30MHz 0.3T以下的机器测:10MHz 21MHz 42MHz 63MHz 100MHz 屏蔽效能测试基线大于110dB
ZN1690X1测漏系统(低频大环测试系统) 该系统是专门用于金属板结构的方舱、高性能屏蔽室(以下简称屏蔽室)施工时的屏效测试。 技术条件 1、接收机 (1)频率:106KHz±5% (2)灵敏度:优于0dB (3)接收天线修正系数:K=40dB (4)衰减器范围:0dB,20dB,40dB,60dB共四档; (5)衰减器误差:±2dB 2、场强发生器 产生电流:有两种机型A型为2A、B型为8A 3、A型测漏范围:>60dB B型测漏范围:>80dB